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1.
著者: 温德
出版社: 中华文化出版事业委员会   出版日期: 1956.4
文献类型: 图书 , 索书号: TL993/1
2.
著者: 温德
出版社: 中华文化出版事业委员会   出版日期: 1955.6
文献类型: 图书 , 索书号: TL-49/1
3.
著者: 温德姆
出版社: 人民文学出版社   出版日期: 2023
文献类型: 图书 , 索书号: I561.45/4076
4.
著者: 温德姆
出版社: 人民文学出版社   出版日期: 2023
文献类型: 图书 , 索书号: I561.45/4075
5.
CMOS集成电路闩锁效应 已借1次.
著者: 温德通
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2020
文献类型: 图书 , 索书号: TN432.02/24
6.
质量管理学 已借7次.
著者: 温德成
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2019
文献类型: 图书 , 索书号: F273.2/966=2
7.
著者: 温德通
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2018
文献类型: 图书 , 索书号: TN405/30
8.
著者: 温德清
出版社: 人民音乐出版社   出版日期: 2018
文献类型: 图书 , 索书号: J658.522/1
9.
著者: 温德宽
出版社: 沈阳出版社   出版日期: 2017
文献类型: 图书 , 索书号: H136.33/70
10.
著者: 温德宽
出版社: 沈阳出版社   出版日期: 2014
文献类型: 图书 , 索书号: K203/1074:1