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1.
High-speed inspection architectures, barcoding, and character recognition :: 5-7 November 1990, Boston, Massachusetts /
订购中
著者:
Chen
Michael J. W..
出版社:
SPIE,
出版日期: c1991.
文献类型:
图书 , 索书号:
TP216-53/H638
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2.
Automated inspection and measurement :: 28-30 October 1986, Cambridge, Massachusetts /
订购中
著者:
Chen
Michael J. W.
Thibadeau
Robert.
出版社:
SPIE--the International Society for Optical Engineering,
出版日期: c1987.
文献类型:
图书 , 索书号:
TP216-53/A939
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内容简介
著者简介
3.
Optics in quality assurance II :: January 22-23, 1979, Los Angeles, California /
订购中
著者:
Kasdan
Harvey L.
出版社:
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers,
出版日期: c1979.
文献类型:
图书 , 索书号:
TP216-53/S678
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