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恩云飞
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恩云飞
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著者
恩云飞
(8)
孔学东
(3)
何小琦
(2)
周斌
(2)
(美)allyson l. hartzell,(美)mark g. da silva,(瑞士)herbert r. shea著
(1)
(美)h. 阿德比利(haleh ardebili),迈克尔·派克(michael g. pecht)著
(1)
(美)steven h. voldman著
(1)
何小琦,恩云飞,周斌编著
(1)
何小琦,恩云飞,宋芳芳编著
(1)
佩希特
(1)
周斌,恩云飞,陈思编著
(1)
哈策尔
(1)
孔学东,恩云飞主编
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孔学东,恩云飞,尧彬等翻译
(1)
孔学东,恩云飞,陆裕东等著
(1)
宋芳芳
(1)
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席尔瓦
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恩云飞,贾玉斌,黄钦文译
(1)
来萍
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出版日期
2012
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2006
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1.
集成电路封装可靠性技术
订购中
著者:
周斌
恩云飞
陈思
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2023
文献类型:
图书 , 索书号:
TN405.94/35
在馆信息
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内容简介
著者简介
2.
电子元器件失效分析与典型案例
订购中
著者:
孔学东
恩云飞
出版社:
国防工业出版社
出版日期: 2006
文献类型:
图书 , 索书号:
TN601/3
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内容简介
著者简介
3.
电子微组装可靠性设计.应用篇
订购中
著者:
何小琦
恩云飞
周斌
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2022
文献类型:
图书 , 索书号:
TN605/51:2
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内容简介
著者简介
4.
电子微组装可靠性设计.基础篇
订购中
著者:
何小琦
恩云飞
宋芳芳
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2020
文献类型:
图书 , 索书号:
TN605/51:1
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内容简介
著者简介
5.
电子产品故障预测与健康管理:应用构架与实践
订购中
著者:
孔学东
恩云飞
陆裕东
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2013
文献类型:
图书 , 索书号:
TN06/28
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内容简介
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6.
ESD揭秘:静电防护原理和典型应用:from semiconductor manufacturing to product use
已借1次.
订购中
著者:
沃尔德曼
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2014
文献类型:
图书 , 索书号:
TN430.2/4
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内容简介
著者简介
7.
MEMS可靠性
订购中
著者:
哈策尔
席尔瓦
谢伊
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2012
文献类型:
图书 , 索书号:
TN4/119
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内容简介
著者简介
8.
电子封装技术与可靠性
订购中
著者:
阿德比利
佩希特
出版社:
化学工业出版社
出版日期: 2012
文献类型:
图书 , 索书号:
TN405.94/16
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内容简介
著者简介
9.
军工产品失效分析技术手册
订购中
著者:
陶春虎
出版社:
国防工业出版社
出版日期: 2009
文献类型:
图书 , 索书号:
F407.486.3-62/1
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