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1.
著者: 毕克允
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 2008
文献类型: 图书 , 索书号: TN4/55=2
2.
著者: 毕克允
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 2008
文献类型: 图书 , 索书号: TN4/55=2
3.
著者: 毕克允
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 2000
文献类型: 图书 , 索书号: TN4/55
4.
著者: 毕克允
出版社: 中国科技图书发行公司   出版日期: 1989.4
文献类型: 图书 , 索书号: TN303-62/7:3
5.
集成电路测试技术 已借1次.
著者: 武乾文
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN407/19