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Krishnendu
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1.
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty.
订购中
著者:
Chakrabarty
Krishnendu.
出版社:
Artech House,
出版日期: 2010.
文献类型:
图书 , 索书号:
TN407/B151
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2.
Curried cultures :: globalization, food, and South Asia /
订购中
著者:
Ray
Krishnendu.
Srinivas
Tulasi.
出版社:
University of California Press,
出版日期: c2012.
文献类型:
图书 , 索书号:
TS971/C976
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3.
Anomaly-detection and health-analysis techniques for core router systems /
订购中
著者:
Zhang
Zhaobo
Chakrabarty
Krishnendu
Gu
Xinli
出版社:
出版日期:
文献类型:
图书 , 索书号:
TN915.05/J61
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著者简介
4.
Micro-electrode-dot-array digital microfluidic biochips :: design automation, optimization, and test techniques /
订购中
著者:
Chakrabarty
Krishnendu
Ho
Tsung-Yi
Lee
Chen-Yi
出版社:
出版日期:
文献类型:
图书 , 索书号:
TB126/L693
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5.
纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
订购中
著者:
戈埃尔
查克拉巴蒂
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2016
文献类型:
图书 , 索书号:
TN432/28
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6.
Handbook of high field dynamic nuclear polarization /
订购中
著者:
Michaelis
Vladimir K.
Griffin
Robert G.
Corzilius
Bjorn
Vega
Shimon
出版社:
出版日期:
文献类型:
图书 , 索书号:
O571.4-62/H236
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