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	1.		X射线衍射形貌术订购中著者: B.K. 坦纳 B.K. Tanner 出版社: 科学出版社出版日期: 1985.3 文献类型: 图书 , 索书号: O72/3 在馆信息图书目录内容简介著者简介
	2.		X-ray diffraction topography / 订购中著者: by B. K. Tanner. 出版社: Pergamon Press, 出版日期: 1976. 文献类型: 图书 , 索书号: O721/T166 在馆信息图书目录内容简介著者简介
	3.		Characterization of crystal growth defects by X-ray methods :: proceedings of NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods, Held Aug. 29-Sept. 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom / 订购中著者: Tanner B. K. Bowen David Keith 出版社: Plenum Press, 出版日期: c1980. 文献类型: 图书 , 索书号: O72-53/N864 在馆信息图书目录内容简介著者简介

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