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1.
High resolution imaging for automatic inspection of multi-layer thick film circuits /
订购中
著者:
Candlish
John B.
Vanatta
Peter W.
出版社:
SME,
出版日期: 1983.
文献类型:
图书 , 索书号:
T-53/S678
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2.
The historical turn in analytic philosophy /
订购中
著者:
Reck
Erich H.
出版社:
Palgrave Macmillan,
出版日期: c2013.
文献类型:
图书 , 索书号:
B089/H673
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